試驗(yàn)場地周圍的環(huán)境應(yīng)能夠確保EUT的騷擾場強(qiáng)測量結(jié)果的有效性和可重復(fù)性。對于那些只能工作在使用現(xiàn)場的EUT，須另行規(guī)定。

正常情況下，騷擾場強(qiáng)的測量是在開闊試驗(yàn)場地上進(jìn)行的。該開闊試驗(yàn)場地具有空曠的水平的地勢特征。這種試驗(yàn)場地應(yīng)避開建筑物、電力線、籬笆和樹木等，并應(yīng)遠(yuǎn)離地下電纜、管道等，除非它們是EUT供電和運(yùn)行所必需的。

（1）氣候保護(hù)罩

如果試驗(yàn)場地全年使用，則可以建一個(gè)氣候保護(hù)罩。氣候保護(hù)罩能夠保護(hù)或者是包括EUT和場強(qiáng)測量天線在內(nèi)的整個(gè)試驗(yàn)場地，或者是只保護(hù)EUT。所使用的材料應(yīng)具有射頻穿透性，以避免造成不需要的反射和EUT輻射場強(qiáng)的衰減。

氣候保護(hù)罩的形狀應(yīng)易于排雪、冰或水。

（2）無障礙區(qū)

為了得到一個(gè)開闊試驗(yàn)場地，在EUT和場強(qiáng)測量天線之間需要一個(gè)無障礙區(qū)域。無障礙區(qū)域應(yīng)遠(yuǎn)離那些具有較大的電磁場的散射體，并且這個(gè)區(qū)域應(yīng)足夠大，使得無障礙區(qū)域以外的散射不會對天線測量的場強(qiáng)產(chǎn)生影響。為了確定無障礙區(qū)域是否足夠大，應(yīng)該進(jìn)行場地有效性的試驗(yàn)。

由于來自物體的散射的場強(qiáng)的幅度大小與許多因素（如，物體的尺寸、到EUT的距離、EUT所在的方位、物體的導(dǎo)電性和介電常數(shù)，以及頻率等）相關(guān)，所以，對所有設(shè)備規(guī)定一個(gè)必須且充分適宜的無障礙區(qū)域是不切實(shí)際的。無障礙區(qū)域的尺寸和形狀取決于測試距離及EUT是否被可旋轉(zhuǎn)。如果試驗(yàn)場地配備了轉(zhuǎn)臺，那么推薦使用橢圓形的無障礙區(qū)域，接收天線和EUT分別放在其兩個(gè)焦點(diǎn)上，長軸的長度為測量距離的2倍，短軸的長度為測量距離的倍。如圖3-2所示。

圖3-2 橢圓形測試場地

對于該橢圓形的無障礙區(qū)域來說，其周界上任何物體的反射波的路徑均為兩個(gè)焦點(diǎn)之間的距離的2倍。如果放置在轉(zhuǎn)臺上的EUT較大，那么就有必要擴(kuò)展無障礙區(qū)的邊界，以保證從EUT邊界到障礙物之間的凈尺寸。

如果試驗(yàn)場地沒有配備轉(zhuǎn)臺，也就是說，EUT是固定不動(dòng)的，那么推薦使用圓形的無障礙區(qū)域。EUT的邊界到試驗(yàn)場地的邊界的徑向距離為測試距離的1.5倍，如圖3-3所示。此時(shí)，測量天線可在距離EUT半徑遠(yuǎn)的位置上圍繞著EUT移動(dòng)。

圖3-3 圓形的無障礙測試場地

無障礙區(qū)的地勢應(yīng)平坦。為了排水的需要，允許地勢稍稍傾斜。測量設(shè)施和測試人員都應(yīng)在無障礙區(qū)之外

（3）試驗(yàn)場地周圍的射頻環(huán)境

試驗(yàn)場地周圍的射頻電平與被測電平相比應(yīng)足夠的低，有關(guān)這方面的場地質(zhì)量可以按以下4個(gè)等級來評價(jià)：

① 周圍的射頻電平比被測電平低6dB；

② 周圍某些射頻電平比被測電平低，但不足6dB；

③ 周圍某些射頻電平比被測電平高，但只在有限的可識別的頻率上；它們可能是非周期的（即相對于測量來說，發(fā)射之間的間隔足夠的長）．也可能是連續(xù)出現(xiàn)的；

④ 周圍的射頻電平在大部分測量頻率范圍內(nèi)都比被測電平高，并且是連續(xù)出現(xiàn)的。

所選擇的試驗(yàn)場地應(yīng)確保：能夠維持在給定的環(huán)境中和可行的工程等級下的測量**度。為了得到更理想的測量結(jié)果，建議周圍的射頻電平比被測電平低20dB。

（4）接地平板

接地平板可以用對地具有高導(dǎo)電率的大面積的金屬材料構(gòu)成．接地平板可以放在地平面上，也可以放在一定高度的平臺或屋頂上．*好使用金屬接地平板，但對某些設(shè)備和應(yīng)用場合，有些產(chǎn)品類標(biāo)準(zhǔn)并不一定推薦使用金屬接地平板。金屬接地平板的大小取決于試驗(yàn)是否要滿足場地有效性的要求。如果接地平板沒有使用金屬材料，那么應(yīng)特別注意選擇那些其反射特性不隨時(shí)間、氣候或因地下存在金屬材料（如，管道，倒灌，或不均勻的土地）而變化的試驗(yàn)場地。通常，這樣的試驗(yàn)場地會給出不同于金屬表面的試驗(yàn)場地的場地衰減特性。